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发格自动化持续推进纳米测量技术的研发
日期：2024-05-10 02:05
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摘要：
在发格Aotek技术中心，发格自动化与 IK4-Tekniker合作，成功制造出符合“国际体系溯源”标准的纳弧级角度测量设备，实现了纳米重复性的准确测量，角度测量精度达10纳弧度。
对于发格自动化来说，测量元件的准确度必须保证要大于被测物体的准确度的十倍，所以测量元件的精度为纳米级和皮米级。
实际测量时，从角度尺度到线性尺度（纳米）距离小至0.8纳米，从而消除了8纳米的测量不确定性。（0.8纳米大约是2个水分子大小）。
发格自动化正在积极参加 “JRP 58 Angles” 项...
在发格Aotek技术中心，发格自动化与 IK4-Tekniker合作，成功制造出符合“国际体系溯源”标准的纳弧级角度测量设备，实现了纳米重复性的准确测量，角度测量精度达10纳弧度。
对于发格自动化来说，测量元件的准确度必须保证要大于被测物体的准确度的十倍，所以测量元件的精度为纳米级和皮米级。
实际测量时，从角度尺度到线性尺度（纳米）距离小至0.8纳米，从而消除了8纳米的测量不确定性。（0.8纳米大约是2个水分子大小）。
发格自动化正在积极参加 “JRP 58 Angles” 项目的的研发，该项目的重点是将“弧度测量”的不确定度降低到0.01弧秒，实现低至2纳米的重复测量精度。
测量元件的纳米级精度是确保纳米设备产业化的关键因素，所有这些将促进科学、航空航天、信息通信技术和汽车行业的进一步发展。
----FAGORAUTOMATION